Надёжность электронных средств измерений
В.С. Грубник, Ю.М. Крысин
Рассматриваются основные теории, критерии и количественные характеристики надёжности электронных средств измерений. Большое внимание уделено оценке количественных характеристик надёжности интегральных микросхем, индикаторов, трансформаторов, коммутирующих устройств, полупроводниковых приборов, резисторов, конденсаторов, печатных плат. На данный момент является сетевым эксклюзивом
Categorie:
Anno:
2001
Casa editrice:
Изд. Пензенского Государственного Университета
Lingua:
russian
Pagine:
60
File:
DJVU, 1.34 MB
IPFS:
,
russian, 2001
Litres
Vuole aggiungere una libreria? Contattaci su support@z-lib.do
Converti i file
Più risultati di ricerca
Altri vantaggi 
